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X射線膜厚儀,國產(chǎn)XRF光譜儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，對(duì)各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測(cè)量。

釹鐵硼磁鐵電鍍層分析儀 1.*的EFP算法：多層多元素、各種元素及有機(jī)物，甚至有同種元素在不同層也可測(cè)量。 2.上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)可對(duì)超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測(cè)量。 3.自動(dòng)對(duì)焦：高低大小樣品可快速清晰對(duì)焦。 4.變焦裝置算法：可對(duì)大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測(cè)。 5.小面積測(cè)量：小測(cè)量面積0.002mm2 6.大行程移動(dòng)平臺(tái)：手動(dòng)XY滑臺(tái)100*

XULM菲希爾鍍層測(cè)厚儀菲希爾鍍層測(cè)厚儀：X射線源和接收器位于測(cè)量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺(tái)簡化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測(cè)量大量部件時(shí)特別有用。盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測(cè)量室，這樣大的物品也可以測(cè)量。殼體的開槽設(shè)計(jì)（C型槽）可以測(cè)量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無法*放入測(cè)量室。

超薄膜厚測(cè)試儀是一種用于測(cè)量超薄膜層（通常厚度在納米至微米級(jí)之間）厚度的高精度儀器。隨著微電子技術(shù)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，超薄膜層材料的應(yīng)用越來越廣泛，尤其是在集成電路、光學(xué)涂層、薄膜太陽能電池、表面處理等領(lǐng)域中，薄膜的厚度直接影響產(chǎn)品的性能和質(zhì)量。

毛細(xì)聚焦X熒光光譜儀、連接器測(cè)厚儀 此系列產(chǎn)品可測(cè)量金屬準(zhǔn)直無法測(cè)量的微區(qū)，多導(dǎo)毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以測(cè)量微電子設(shè)備、高級(jí)電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區(qū)域。 可以測(cè)量納米級(jí)的鍍層，毛細(xì)聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上，可以敏感的反應(yīng)鍍層納米級(jí)厚度變化。其焦斑小區(qū)域上的X射線強(qiáng)度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)。 可以實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試精度。

全自動(dòng)鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀儀器簡介：XTD-200是一款專用于檢測(cè)各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應(yīng)對(duì)平面、微小樣品的檢測(cè)，在面對(duì)凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢(shì)；搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)，無人值守，便可實(shí)現(xiàn)多樣品的自動(dòng)檢測(cè)。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

涂鍍層 環(huán)保ROHS一體機(jī)光譜分析儀 性能優(yōu)勢(shì)：1.微小樣品檢測(cè)：小測(cè)量面積0.03mm²（加長測(cè)量時(shí)間可小至0.01mm²）2.變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可測(cè)量。 4.解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。 5.高性能探測(cè)器：S

全自動(dòng)鍍層測(cè)厚儀 XTD-200是一款于檢測(cè)各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應(yīng)對(duì)平面、微小樣品的檢測(cè)，在面對(duì)凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢(shì)；搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)，無人值守，便可實(shí)現(xiàn)多樣品的自動(dòng)檢測(cè)。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。

鍍層厚度與ROHS分析儀采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數(shù)法，基于熒光X射線激發(fā)的基本原理，從理論上計(jì)算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線的熒光強(qiáng)度，在基于此計(jì)算Lachance綜合校正系數(shù)，然后使用這些理論a系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)。、可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬以及有機(jī)物層。

五金電鍍測(cè)厚儀 光譜膜厚儀 XTU系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。 搭配微聚焦射線管和*的光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。 檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測(cè)量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng).